粒度分析方法通常采用篩分或沉降法。常用的沉降法存在著檢測(cè)速度慢(粒子計(jì)數(shù)器)、重復(fù)性差、對(duì)非球型粒子誤差大、不適用于混合物料(粒子計(jì)數(shù)器)、動(dòng)態(tài)范圍窄等缺點(diǎn)。
所以，判斷激光粒度分析儀（粒子計(jì)數(shù)器）的優(yōu)劣，主要看其以下幾個(gè)方面：
 

1　粒度測(cè)量范圍：粒度范圍寬，適合的應(yīng)用廣。不僅要看其儀器所報(bào)出的范圍，而是看超出主檢測(cè)器面積的小粒子散射(<0.5μm>如何檢測(cè)。途徑是范圍直接檢測(cè)，這樣才能保證本底扣除的一致性。不同方法的混合測(cè)試，再用計(jì)算機(jī)擬合成一張圖譜，肯帶來(lái)誤差。

2　激光光源：一般選用2mW激光器，功率太小則散射光能量低，造成靈敏度低；另外，氣體光源波長(zhǎng)短，穩(wěn)性?xún)?yōu)于固體光源。

3  檢測(cè)器：因?yàn)榧す庋苌涔猸h(huán)半徑越大，光強(qiáng)越弱，極易造成小粒子信/噪比降低而漏檢，所以對(duì)小粒子的分布檢測(cè)能體現(xiàn)儀器的好壞。檢測(cè)器的發(fā)展經(jīng)歷了圓形，半圓形和扇形幾個(gè)階段。
 

4 是否使用完的米氏理論：因?yàn)槊资瞎馍⒗碚摲浅?fù)雜，數(shù)據(jù)處理量大，所以有些廠(chǎng)家忽略顆粒本身折光和吸收等光學(xué)性質(zhì)，采用近似的米氏理論，造成適用范圍受限制，漏檢幾率增大等問(wèn)題。

5　準(zhǔn)確性和重復(fù)性指標(biāo)越高越好：采用NIST標(biāo)準(zhǔn)粒子檢測(cè)。

6　穩(wěn)性：儀器穩(wěn)性包括光路的穩(wěn)性和分散系統(tǒng)的穩(wěn)性和周?chē)h(huán)境的影響。一般來(lái)講選用氣體激光器，使用光學(xué)平臺(tái)，有助于光路的穩(wěn)。內(nèi)部發(fā)熱部件(如50瓦的鎢燈)將影響光路周?chē)h(huán)境。